天瑞X-ray膜厚测试仪
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产品描述

元素检测范围13铝(Al)~92铀（U） 同时检测元素可同时分析24种元素，五层以上镀层 含量测试范围0.1%~99.9% 厚度范围≤50μm 检出限0.005μm 厚度标准偏差≤3% 探测器Fast-SDD探测器 探测器分辨率140±5ev X射线装置微焦斑W靶光管 检测时间5~40秒 外形尺寸485mm×588mm×505mm 仪器重量60kg 操作环境温度0~30℃，湿度≤70% 工作电源AC220V±5V

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EDX2000A 4×3

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