Xray膜厚仪
  • Xray膜厚仪
  • Xray膜厚仪
  • Xray膜厚仪

产品描述

元素检测范围13铝(Al)~92铀(U) 同时检测元素可同时分析24种元素,五层以上镀层 含量测试范围0.1%~99.9% 厚度范围≤50μm 检出限0.005μm 厚度标准偏差≤3% 探测器Fast-SDD探测器 探测器分辨率140±5ev X射线装置微焦斑W靶光管 检测时间5~40秒 外形尺寸485mm×588mm×505mm 仪器重量60kg 操作环境温度0~30℃,湿度≤70% 工作电源AC220V±5V

202404161357204435594.jpg202404161357031347064.jpg

EDX2000A  4×3

202404031809216435354.jpg202404031809217256544.jpg20240403180921783054.jpg202404031809218274874.jpg

公司简介(无码)规模实力1规模实力2荣誉资质


http://www.skyray17.com
产品推荐

Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

您是第96352位访客

版权所有 ©2024-12-21 江苏天瑞仪器股份有限公司 保留所有权利.

技术支持: 八方资源网 免责声明 管理员入口 网站地图