全自动微区膜厚测试仪

全自动微区膜厚测试仪是天瑞仪器集多年X荧光膜厚测量技术于一身研发的高 精度镀层厚度检测设备，以下是对其的详细介绍：

产品型号与品 牌：

型 号：EDX2000A

品 牌：江苏天瑞仪器股份有限公司

技术特点：

自动化操作：通过自动化的三轴三维移动和双激光定位及保护系统，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦分析。

高 精度测量：全新的光路设计，更短的光程，相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上，保证了测量的高 精度。

可编程多点测试：能自动完成对多个样品多个点的测试，大大提高了测样效率。

行业适应性：不仅在常规的传统电镀上表现优异，更能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。

设计亮点：

上照式设计：可适应更多异型微小样品的测试。

可变焦高精摄像头：搭配距离补正系统，不仅可适应微小产品，同时也兼顾了台阶、深槽、沉孔样品的测试需求。

使用方法：

打开电源开关并等待预热和稳定。

将待测样品放置在台面上，并确保其表面清洁、光滑。

调节测量头使其与样品接触并保持垂直。

启动测量程序，等待测量结果显示完成并记录数值。

综上所述，全自动微区膜厚测试仪EDX2000A是一款功能强大、操作简便、高 精度的测量设备，能够满足各种复杂形态的样品测试需求，并广泛应用于电镀、半导体、芯片及PCB等行业。